ТВЕРДОЕ ТЕЛО, агрегатное
состояние в-ва, отличит. признаками к-рого при нормальных условиях являются
устойчивость формы и характер теплового движения структурных единиц Т. т. (атомов,
ионов, молекул), совершающих малые колебания относительно нек-рых фиксир. положений
равновесия.
Св-ва Т. т. определяются
их хим. составом и зависят от характера межатомных связей, типа кристаллич.
структуры и степени структурного совершенства, а также от фазового состава.
В зависимости от кол-ва образующих их элементов Т. т. можно подразделить на
простые (однокомпонентные) и сложные (многокомпонентные), к-рые, в свою очередь,
могут представлять собой хим. соединения (неорг. или орг.) либо твердые растворы
разл. типа (замещения, внедрения).
Межатомные связи в Т. т.
осуществляются в результате взаимод. атомов (ионов) и валентных электронов,
связь между атомами м. б. ионной, ковалентной, металлич. (см. Химическая
связь), а также ван-дер-ваальсовой, водородной. Для многих Т. т.
характерен смешанный тип хим. связи.
Т. т. бывают кристаллич.
и аморфные. Кристаллическое состояние характеризуется наличием дальнего
порядка в расположении частиц, симметрией кристаллич. решетки (св-вом отдельных
узлов решетки совмещаться при транс-ляц. перемещении). Совокупность отдельных
узлов решетки образует т. наз. решетку Браве (см. Кристаллы, Кристаллическая
структура).
Кристаллические Т. т. могут
быть в виде монокристаллов или поликристаллов. В большинстве областей техники
используют поликристаллические Т. т., монокристаллы находят применение в электронике,
произ-ве оптич. приборов, ювелирных изделий и т. д. Структурно-чувствит. св-ва
Т. т., связанные с перемещением частиц и квазичастиц, а также магнитных и электрич.
доменов и др. существенно зависят от типа и концентрации дефектов кристаллич.
решетки. Равновесные собств. точечные дефекты (напр., вакансии, межузельные
атомы) термодинамически обусловлены и играют важную роль в процессах диффузии
и самодиффузии в Т. т. Это используется в процессах гомогенизации, рекристаллизации,
легирования и др. Ряд практически важных св-в Т. т. зависит от др. видов структурных
дефектов, имеющихся в кристаллах,-дислокаций, малоугловых и межзеренных границ,
включений и т.д.
Для аморфного состояния
Т. т. характерно наличие только ближнего порядка; оно термодинамически неустойчиво,
однако при обычных т-рах переход в кристаллич. состояние обычно не реализуется
и может осуществляться лишь при нагреве. Аморфные Т. т., в отличие от большинства
кристаллических, изотропны.
По фазовому составу Т.
т. разделяются на однофазные и многофазные. Форма и распределение фазовых составляющих
могут оказывать сильное влияние на разл. св-ва многофазных Т. т. К наиб. важным
в практич. отношении св-вам Т. т. относят мех., электрич., тепловые, магнитные,
оптические.
Механические свойства
Т. т.-упругость, пластичность (см. Реология), твердость, хрупкость,
прочность-характеризуют их способность сопротивляться деформации и
разрушению при воздействии внеш. напряжений. Для большинства Т. т. (за исключением
нек-рых полимерных материалов типа каучука) упругая деформация линейно зависит
от величины приложенных напряжений (Гука закон). В монокристаллах
и текстурир. поликристаллах упругая деформация анизотропна. Т. т. с металлич.
типом хим. связи обычно более пластичны в сравнении с Т. т., имеющими ионный
тип связи, и в большинстве случаев при больших напряжениях испытывают вязкое
разрушение (тогда как вторые - обычно хрупкое). Пластичность Т. т. возрастает
с повышением т-ры.
Электрич. св-ва Т. т.,
как и многие др. физ. св-ва, объясняются на основе квантовомех. представлений,
приведших к разработке зонной теории. Эта теория описывает энергетич. спектр
электронов, движущихся в периодич. поле кристаллич.
решетки. В результате сближения изолир. атомов при образовании Т. т. их электронные
оболочки перекрываются и дискретные энергетич. уровни электронов атома расщепляются
на ряд близко расположенных уровней с квазинепрерывным энергетич. спектром,
образуя таким образом зоны разрешенных энергий, или разрешенные зоны. Эти зоны
м.б. разделены зонами запрещенных энергий (запрещенные зоны), но могут и перекрываться,
если в изолир. атомах расстояния между соответствующими уровнями малы. Ширина
разрешенной зоны тем больше, чем больше расщепление уровня, т.е. чем слабее
электрон связан с ядром.
Количеств. оценку энергетич.
спектра электронов в кристалле получают на основе приближенного решения ур-ния
Шрёдингера. Если принять, что перекрывание волновых ф-ций электронов происходит
лишь для соседних атомов кристалла, для одномерного случая зависимость энергии
электрона Еэ от волнового вектора электрона к описывается
выражением вида: Еэ = ђ2к2/2т,
где ђ-постоянная Планка, m-масса электрона, к = 2p/l,
l-длина волны электрона. Для трехмерного случая пользуются проекциями волнового
вектора на оси координат: кх,ку,кz.
Границы разрешенных энергетич. зон определяют исходя из представлений о
дифракции электронов, движущихся в поле периодич. потенциала кристаллич. решетки.
Условие отражения электронов от кристаллич. плоскостей описывается ур-нием Вульфа-Брэгга:
nl = 2a sinq, где n = 1,2,3,..., a-период
кристаллич. решетки, q-угол падения электрона на плоскость. Области значений
к, в пределах к-рых энергия электронов изменяется непрерывно, а на границах
претерпевает разрыв, наз. зонами Бриллюэна. Они определяют границы между разрешенными
и запрещенными зонами энергий и лежат в пределах к = b np/a.
Заполнение разрешенных
зон электронами в Т. т. происходит последовательно в порядке возрастания энергетич.
уровней в зонах. Согласно принципу Паули для Т. т., содержащего N атомов,
в каждой энергетич. зоне могут находиться 2N электронов. Вероятность
заполнения уровня с энергией E определяется соотношением Ферми-Дирака:
f = 1/{1 + ехр[(E — EF)/kT]}, где
k-константа Больцмана, EF-уровень Ферми-энергетич.
уровень, вероятность заполнения к-рого при Т . 0 К равна 0,5 (м.
б. интерпретирован как хим. потенциал электрона). Изоэнергетич. пов-сть, соответствующая
ЕF, наз. Ферми-пов-стью. В зависимости от числа валентных
электронов верхняя из заполненных зон (в а-лентная зона) м.б. занята полностью
или частично. Степень заполнения валентной зоны электронами играет важную роль
в формировании электрич. св-в Т.т., т.к. электроны полностью заполненной зоны
не переносят ток.
Зонная теория справедлива
для кристаллических Т. т. В случае аморфных Т. т. вследствие разупорядоченности
их структуры разработка строгой теоретич. зонной модели сталкивается со значит.
трудностями. Обычно оперируют понятием квазизапрещенных зон, разделяющих разрешенные
зоны, края к-рых вследствие возмущений, вызванных структурной разупорядоченностью,
в сравнении с кристаллическим Т. т. несколько сдвигаются и размываются.
Электрич. проводимость
s T. т. определяется в первую очередь характером заполнения электронами
энергетич. зон (см. рис.). Т. т. с металлич. типом хим. связи (металлы) характеризуются
высокой степенью обобществления валентных электронов (электронов проводимости),
перекрыванием разрешенных энергетич. зон и частичным заполнением разрешенных
зон электронами. Такие Т. т. являются хорошими проводниками. В отличие от них
полупроводники и диэлектрики при Т=0 К имеют полностью
заполненные либо пустые, неперекрывающиеся, разрешенные зоны. Для диэлектриков
характерны большие значения ширины запрещенной зоны DE между
валентной (заполненной) и незаполненной зоной (зоной проводимости), вследствие
чего в обычных условиях они практически не содержат своб. электронов и не проводят
электрич. ток. Полупроводники, принципиально не отличаясь от диэлектриков по
зонному строению, имеют меньшую ширину запрещенной зоны (условной границей между
ними принято считать значение DE = 3 эВ). Вследствие теплового
возбуждения при обычных т-рах часть валентных электронов переходит в зону проводимости
(электроны проводимости), поэтому полупроводники, как правило, имеют промежуточную
между металлами и диэлектриками s (10-8s104
См·см-1). Известны т. наз. бесщелевые полупроводники с DE
= 0. Т. т. с аномально малым перекрытием разрешенных зон (напр., Sb, Bi) относят
к полуметаллам.
Схема заполнения зон в
диэлектриках и полупроводниках (а), металлах (б)и полуметаллах
(в).
В общем случае величина
s T. т. зависит от механизма рассеяния носителей заряда, к-рое может
происходить на тепловых колебаниях атомов (ионов), нейтральных и заряженных
собств. и примесных точечных дефектах, линейных, поверхностных и объемных дефектах
кристаллич. решетки. В случае металлов s имеет электронную природу и подчиняется
закону Ома. Для металлов характерно уменьшение s с т-рой. В отличие от
металлов у полупроводников с повышением т-ры s увеличивается вследствие
значит. возрастания концентрации своб. носителей заряда. В диэлектриках осн.
носители заряда-ионы, вследствие чего s сопровождается переносом в-ва.
Электронная проводимость диэлектриков возникает лишь при высоких электрич. напряжениях,
близких к пороговым и соответствующих пробою. Как и в полупроводниках, s
возрастает с повышением т-ры.
При низких т-рах вблизи
0 К мн. металлы (и неметаллы) переходят в сверхпроводящее состояние (см. Сверхпроводники),
к-рое проявляется в полной потере электрич. сопротивления, а также в аномальных
магн. св-вах. Такой переход связан с электрон-фононным взаимодействием. Для
Т. т. s может изменяться и под действием др. внеш. воздействий (напр.,
давления, облучений). В наиб. степени к этим воздействиям чувствительны полупроводники,
благодаря чему их используют для изготовления разл. датчиков.
Важная характеристика диэлектриков-диэлектрич.
проницаемость e, характеризующая ослабление силы электро-статич. взаимодействия
зарядов в диэлектрике в сравнении с вакуумом. Она связана с поляризацией
Т. т. при приложении внеш. электрич. поля. Для нек-рых диэлектриков характерно
возникновение спонтанной поляризации (см. Сегнето-электрики). Возможно
также возникновение поляризации под действием упругой деформации, вызывающее
пьезоэф-фект, противоположное явление - обратный пьезоэффект (см. Пьезоэлектрики).
Указанные эффекты лежат в основе практич. использования соответствующих
диэлектриков в пьезотехнике, акустоэлектронике.
Тепловые св-ва Т. т. (см.
Теплообмен) находят объяснение на основе динамич. теории кристаллич.
решеток, в соответствии с к-рой решетка представляет совокупность связанных
квантовых осцилляторов разл. частоты. Квант колебат. энергии представляется
в виде фонона-квазичастицы, соответствующей волне смещения атомов (ионов) и
молекул кристалла из положений равновесия. Энергия фонона Eф
= ђv, его импульс p = ђq, где v-частота колебаний, q-волновой
вектор акустич. волны, соответствующей данному
фонону. Среднее число фононов с энергией Еф изменяется
с т-рой в соответствии со статистикой Бозе-Эйнштейна:Из
энергий фононов складывается общая тепловая энергия Т. т. (за исключением энергии,
к-рой оно может обладать при О К). Фононы взаимод. между собой, с др. частицами
и квазичастицами, а также с дефектами кристаллич. решетки Т. т. Вследствие этого
они часто играют роль внутр. термостата, поглощая избыточную энергию возбужденных
частиц и квазичастиц в процессах релаксации. Макроскопич. св-ва Т. т. описываются
на основе представлений о газе фононов. Для аморфных Т. т. понятие фонона удается
ввести только для низкочастотных акустич. колебаний, слабочувствительных к ближнему
порядку в расположении структурных единиц Т. т.
Теплоемкость Т.
т. при высоких т-рах определяется законами классич. статистич. механики, при
низких-квантовой механики. Условной границей, разделяющей сферу действия этих
законов, является т-ра Дебая qD. Величина qD
индивидуальна для каждого в-ва (для большинства Т. т. qD = =
102-103 К).
Тепловое расширение Т.
т. связано с энгармонизмом тепловых колебаний атомов. Коэф. теплового расширения
a тем меньше, чем прочнее межатомные связи в Т. т. В кристаллических Т.
т. с несимметричной структурой коэф. a анизотропен.
Теплопроводность к
Т. т. в общем случае складывается в осн. из электронной и фононной составляющих.
Вклад каждой из них зависит от природы Т. т. В металлах осн. роль в переносе
тепла при обычных т-рах играют электроны проводимости. В диэлектриках тепловая
энергия передается преим. фононами и к пропорциональна теплоемкости в-ва,
средней скорости и средней длине своб. пробега фононов. В полупроводниках преобладание
того или иного механизма теплопроводности определяется наличием, типом и концентрацией
примесей и, как и в др. Т. т., к зависит от состояния кристаллич. решетки
(аморфное, моно- или поли-кристаллич.) и наличия структурных дефектов.
Магн. св-ва Т. т. (см.
Магнетохимия, Магнитная восприимчивость, Магнитные материалы) определяются
наличием или отсутствием у частиц, образующих Т. т., магн. моментов. Осн. роль
в формировании магн. св-в Т. т. играют электроны благодаря наличию у них спиновых
магн. моментов (т. наз. магнетон Бора). Дополнит. небольшой вклад в образование
магн. моментов м. б. связан со спином нуклонов и орбитальным движением электронов.
По магн. св-вам Т. т. разделяются на парамагнетики, диамагнетики, ферромагнетики,
антиферромагнетики и фёрримагнетики.
Оптич. св-ва Т. т. (см.
Оптические материалы) определяются характером взаимод. электромагн.
поля с в-вом. Поглощение излучения обусловлено переходом частиц, образующих
Т. т., в возбужденное состояние. С обратным переходом частиц из возбужденного
состояния в невозбужденное связана люминесценция. Коэф. поглощения зависит
от длины волны излучения и природы Т. т.
Для металлов, имеющих высокую
концентрацию своб. электронов, свойственны высокие коэф. отражения излучения
в широком спектральном диапазоне. Это связано с тем, что б. ч. энергии, приобретенной
своб. электронами поверхностного слоя металла, расходуется на генерацию вторичных
волн, сложение к-рых образует отраженную волну.
Вследствие того что электроны
проводимости в металлах могут поглощать сколь угодно малые кванты электромагн.
энергии, при взаимод. внеш. электромагн. поля с электронами в тонком поверхностном
слое металла индуцируются токи (скин-эффект). Они играют экранирующую роль и
приводят к резкому (экспоненциальному) затуханию волны внутри металла.
В полупроводниках и диэлектриках
в зависимости от длины волны падающего злектромагн. излучения поглощение связано
с одним из след. осн. механизмов: 1) собств. (фундаментальное) поглощение, вызванное
возбуждением электронов из валентной зоны в зону проводимости; 2) экситонное
поглощение, обусловленное образованием возбужденного состояния-связанной пары
электрон -дырка; 3) поглощение своб. носителями заряда; 4) поглощение на дефектах
кристаллич. решетки. Для кристаллического Т. т. (за исключением кристаллов кубич.
сингонии) характерна анизотропия оптич. св-в, вызывающая такие явления, как
поляризация света, двойное лучепреломление.
Процессы взаимодействия
Т. т. с электромагн. излучением лежат в основе использования их для изготовления
элементов оптич. приборов и систем, источников и приемников излучения и др.
=== Исп. литература для статьи «ТВЕРДОЕ ТЕЛО»: Ван Fлек
Л., Теоретическое и прикладное материаловедение, пер. с англ., М-, 1975; Постников
В. С., Физика и химия твердого состояния, М., 1978; Горелик С. С, Дашевский
М. Я., Материаловедение полупроводников и диэлектриков, М., 1988. Р. X. Акчурин.
Страница «ТВЕРДОЕ ТЕЛО» подготовлена по материалам химической энциклопедии.
|