ТУННЕЛЬНАЯ СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ, метод исследования структуры пов-сти твердых тел, позволяющий четко визуализировать на ней взаимное расположение отдельных атомов; основана на туннельном эффекте.

В туннельном сканирующем микроскопе система пьезокри-сталлов, управляемая компьютером, обеспечивает трехкоор-динатное перемещение металлич. зонда на расстоянии порядка 0,1 HM от исследуемой пов-сти. Между ней и зондом прикладывают напряжение ок. 1 В и регистрируют возникающий туннельный ток. Компьютер управляет вертикальным перемещением зонда так, чтобы ток поддерживался на заданном постоянном уровне, и горизонтальными перемещениями по осям c и у (сканированием). Воспроизводимое на дисплее семейство кривых, отвечающих перемещениям зонда, является изображением эквипотенциальной пов-сти, поэтому атомы изображаются полусферами разл. радиусов. Достоинства метода: сверхвысокое разрешение (атомного порядка, 10^-2 нм); возможность размещать образец не в вакууме (как в электронных микроскопах), а в обычной воздушной среде при атм. давлении, в атмосфере инертного газа и даже в жидкости, что особенно важно для изучения гелеобразных и макромол. структур (белков, ДНК, РНК, вирусов) в нативном состоянии.

По принципу синтеза изображений (с помощью электронных сканирующих систем) и диапазону объектов анализа данный метод тесно смыкается с электронной микроскопией.

===
Исп. литература для статьи «ТУННЕЛЬНАЯ СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ»: "Nature", 1990, v. 346, № 6281, 19 July, p. 294-96.

А. Г. Богданов.

Страница «ТУННЕЛЬНАЯ СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ» подготовлена по материалам химической энциклопедии.