Частицы на AFM-изображениях характеризуются значительным распределением. Это может объясняться тем, что образцы слишком концентрированы. Несколько молекул полимеров могут объединяться и формировать более крупные агломераты. Такими агломератами могут быть большие частицы на Рисунках 16 и 17. Тем не менее, при последующем разбавлении образца не удалось установить контакт межу AFM-иглой и образцом. Можно было обнаружить зоны, где было мало крупных частиц, или их не было совсем, Рисунок 16; был проведен фракционный анализ этих зон (см. Рисунки 18-20). В результате анализа сечений на изображениях по этим небольшим частицам были получены размеры по вертикали в диапазоне от приблизительно 1.8 µm до 4 µm.  AFM изображение, Концептуальный алкид. Слева направо отображаются высота, фаза и амплитуда        0                         2.0 μm Тип данных                Высота Диапазон по оси z     40.00нм   
 0                       2.0 μm Тип данных                Фаза Диапазон по оси z     50.00о   
 0                        2.0 μm Тип данных                Амплитуда Диапазон по оси z     0.02928V  AFM высотное изображение для Концептуального алкида     Размер сканирования                     4,000 μm Частота сканирования                 1,001 Hz Количество образцов                    512 Данные по изображению                Высота Масштаб изображения                  40.00 нм
 Расстояния по горизонтали и по вертикали были получены из результатов анализа сечений по высотным изображениям. Эти расстояния намного превышали вертикальные, в большинстве случаев в 16 раз, Рисунки 18-20. Это указывает на то, что частицы/молекулы плоские. Однако этот эффект может быть вызван сильным давлением иглы AFM на образец, что становится причиной снижения высоты у частиц/молекул. ВЫВОДЫ Рассматривая характеристики сушки и содержания ЛОС в составах, не имеющих запаха, можно предположить, что метод оказался успешным. Характеристики сушки стандартного алкида ниже, чем характеристики обоих вышеуказанных концептуальных Алкидов. Смешение стандартного алкида с любым из концептуальных Алкидов может привнести характеристики жесткости и сушки. Метод может соответствовать требованиям по эмиссиям ЛОС 2007 и даже 2010 годов. Возможно потребуется некоторое регулирование составов, оно остается на усмотрение клиентов.  Тем не менее, это можно считать хорошей отправной точкой. Представленные в данной статье связующие вещества заполняют собой пробел в ряду показателей поведения при сушке, который существует между стандартными алкидами и алкидами общего характера с высоким содержанием твердого вещества или простыми дендритными структурами. Концептуальные связующие вещества также можно использовать отдельно или в сочетании со стандартными алкидами в качестве реакционных растворов. При этом не возникает риск изменения поведения при сушке или других свойств общего характера. Рисунок 18. AFM анализ секций Концептуального алкида Рисунок 7. Площадь анализируемой зоны составляет 2 х 2 μm.     Длина 42.969 нм; RMS 0.648 нм; 1с DC; R [1с] 0.074 нм; Rмакс. 0.445 нм; Rz 0.437 нм; Rz Cnt 2; Радиус 982.79 нм; сигма 0.089 нм
 Расстояние до поверхности 54.741 нм; Расстояние по гориз. (длина) 54.688 нм; Расстояние по верт. 2.098 нм; Угол 2.460о; Расстояние до поверхности 43.021 нм; Расстояние по гориз. 42.969 нм; Расстояние по верт. 1.846 нм; Угол 2.460о; Расстояние до поверхности; Расстояние по гориз.; Расстояние по верт.; Угол; Спектральный период DC; Спектральная частота 0 / μm; Спектральный RMS амп. 1.130 нм 
 
  |